2.5次元測(cè)量?jī)x包括二次尺寸、在Z軸上添加光柵和光學(xué)高度測(cè)量的所有功能。增加一個(gè)英國雷尼紹探測(cè)器來完成部分三維測(cè)量;(可選)基于光學(xué)原理的非接觸測(cè)試測(cè)量。2.5次元測(cè)量?jī)x適用于以雙坐標(biāo)測(cè)量為目的的領(lǐng)域,是一種適用于小、薄、軟、備件的測(cè)量解決方案。
2.5次元測(cè)量?jī)x包括二次尺寸、在Z軸上添加光柵和光學(xué)高度測(cè)量的所有功能。增加一個(gè)英國雷尼紹探測(cè)器來完成部分三維測(cè)量;(可選)基于光學(xué)原理的非接觸測(cè)試測(cè)量。2.5次元測(cè)量?jī)x適用于以雙坐標(biāo)測(cè)量為目的的領(lǐng)域,是一種適用于小、薄、軟、備件的測(cè)量解決方案。
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